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硅探測(cè)器是以硅材料為探測(cè)介質(zhì)的輻射探測(cè)器。
光電探測(cè)器:硅(si)-偏壓 常規(guī)型
離子注入監(jiān)測(cè)?
- 能量測(cè)量:在半導(dǎo)體制造的離子注入工藝中,硅探測(cè)器可精確測(cè)量注入離子的能量。不同能量的離子會(huì)在硅探測(cè)器中產(chǎn)生不同的信號(hào),通過(guò)分析這些信號(hào)能得知離子能量是否符合工藝要求,進(jìn)而確保注入離子能夠準(zhǔn)確地穿透到半導(dǎo)體材料的特定深度,形成預(yù)期的雜質(zhì)分布。
- 劑量監(jiān)測(cè):它還能對(duì)注入離子的劑量進(jìn)行監(jiān)測(cè)。離子注入劑量直接影響著半導(dǎo)體器件的電學(xué)性能,硅探測(cè)器通過(guò)統(tǒng)計(jì)一定時(shí)間內(nèi)接收到的離子數(shù)量,可實(shí)時(shí)反饋離子注入的劑量信息,以便操作人員及時(shí)調(diào)整工藝參數(shù),保證劑量的準(zhǔn)確性。 缺陷檢測(cè)?
- 電子束檢測(cè):當(dāng)使用電子束對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行檢測(cè)時(shí),硅探測(cè)器可以接收電子束與半導(dǎo)體材料相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號(hào)。如果半導(dǎo)體器件存在缺陷,如晶體結(jié)構(gòu)缺陷、雜質(zhì)聚集等,這些信號(hào)的強(qiáng)度和分布會(huì)發(fā)生變化,硅探測(cè)器將這些變化轉(zhuǎn)化為電信號(hào),經(jīng)過(guò)分析就能確定缺陷的位置和類(lèi)型。
- X射線檢測(cè):利用X射線對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行照射,硅探測(cè)器可探測(cè)X射線在材料中產(chǎn)生的熒光、衍射等信號(hào)。當(dāng)器件內(nèi)部存在缺陷時(shí),X射線的吸收和散射情況會(huì)有所不同,導(dǎo)致探測(cè)器接收到的信號(hào)出現(xiàn)異常,從而幫助檢測(cè)出諸如內(nèi)部裂紋、空洞等缺陷。
電學(xué)性能測(cè)試?
- 載流子濃度測(cè)量:硅探測(cè)器可以通過(guò)與半導(dǎo)體器件形成特定的接觸結(jié)構(gòu),利用電容 - 電壓(C-V)測(cè)量等方法來(lái)研究器件中載流子的濃度分布。通過(guò)分析探測(cè)器所得到的電信號(hào)與器件偏置電壓之間的關(guān)系,能夠獲取有關(guān)半導(dǎo)體材料中雜質(zhì)濃度、載流子類(lèi)型等信息,進(jìn)而評(píng)估器件的電學(xué)性能。
- 漏電檢測(cè):在對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行漏電測(cè)試時(shí),硅探測(cè)器作為靈敏的電流檢測(cè)裝置,能夠精確測(cè)量器件在不同偏置條件下的漏電流。即使是微小的漏電流變化也能被探測(cè)器捕捉到,這有助于及時(shí)發(fā)現(xiàn)器件中存在的漏電路徑或絕緣層缺陷等問(wèn)題,確保器件的可靠性和穩(wěn)定性。
工藝監(jiān)控與質(zhì)量控制?
- 在線監(jiān)測(cè):在半導(dǎo)體生產(chǎn)線中,硅探測(cè)器可以集成到工藝設(shè)備中,對(duì)離子注入、刻蝕、薄膜沉積等關(guān)鍵工藝進(jìn)行實(shí)時(shí)在線監(jiān)測(cè)。通過(guò)及時(shí)反饋工藝過(guò)程中的相關(guān)信息,如離子能量、劑量、薄膜厚度等,操作人員可以及時(shí)調(diào)整工藝參數(shù),保證工藝的穩(wěn)定性和重復(fù)性,提高產(chǎn)品的一致性和良品率。
- 成品檢測(cè):在半導(dǎo)體器件制造完成后,利用硅探測(cè)器對(duì)器件進(jìn)行全面檢測(cè),能夠篩選出存在各種缺陷和性能不達(dá)標(biāo)的產(chǎn)品。這種檢測(cè)方式可以有效控制產(chǎn)品質(zhì)量,降低不良品率,減少生產(chǎn)成本和市場(chǎng)風(fēng)險(xiǎn)。
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